鉭電容失效原因：因素：容量、溫度和浪涌

鉭電容是市場上使用非常廣泛的電容器之一（也有人筆誤會寫成膽電容，其讀音是dan 而不是tan），是容易產生失效的元器件，相對陶瓷貼片電容顯得有些嬌貴。以下三種因素：容量、溫度和浪涌可能導致其功能失效。具體失效原因，kemet鉭電容、avx鉭電容和振華新云等品牌授權分銷商南京南山半導體的技術部同事給出了以下幾點分析：

早期的鉭電容的實效主要是由兩個因素造成的：

A.極性接反引起的擊穿失效----多在研發階段由于設計和測試不當引起，所以禁止使用萬用表電阻檔對鉭電容器電路或其本身進行不分極性的電阻測試。

B.一種較為隱蔽的失效----常在工作時出現，其原因是由于焊接溫度過高，焊接持續時間過長，導致鉭電容器內部氧化膜受傷，造成漏電流大和短路失效。

 生產和和使用中鉭電容（你也讀成膽電容么？^^）失效經驗談：

容量較大的鉭電容器比容量較小的鉭電容器更容易失效。

鉭電容器失效多發生在固定的位置，或固定的電路中，譬如電源濾波電路中。

電源濾波電路中第一個鉭電容器最容易失效。

在測試時的通電瞬間鉭電容器最容易失效。

老化過程中容易失效。

散熱較差區域的鉭電容器更容易失效。

浪涌情況下鉭電容器更容易失效。

總結上述現象，主要導致鉭電容器失效的因素：容量、溫度和浪涌。